技術(shù)文章
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10-22
原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)是一種基于探針與樣品表面相互作用的高分辨率顯微技術(shù),能夠在納米尺度上對樣品進行三維形貌測量和多種物理、化學(xué)性質(zhì)分析。其核心優(yōu)勢在于無需真空環(huán)境、可測量多種材料(包括絕緣體),且能提供遠(yuǎn)超光學(xué)顯微鏡的分辨率(橫向分辨率達(dá)0.1-0.2納米,縱向分辨率達(dá)0.01納米)。以下是AFM的主要測量功能及應(yīng)用場景:一、表面形貌測量1、三維形貌重構(gòu)通過探針掃描樣品表面,記錄探針垂直位移(Z軸信號),生成高分辨率的三維表面圖像...
查看更多10-16
蔡司掃描電鏡是材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的重要觀察工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。掌握正確的操作方法和樣品制備技巧,對獲得高質(zhì)量的觀察結(jié)果至關(guān)重要。??一、操作指南??操作蔡司掃描電鏡時,先要確保儀器處于穩(wěn)定的工作狀態(tài)。開機后需要給予適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時間,使電子光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到較佳工作條件。在正式觀察前,要進行電子槍、探測器等關(guān)鍵部件的功能檢查,確保儀器各項參數(shù)正常。樣品臺的定位和移動需要謹(jǐn)慎操作。將樣品放置在樣品臺上時,要確保位置準(zhǔn)確且固定牢固,避免觀察過程中發(fā)生位移。通過控制樣品...
查看更多9-18
三豐粗糙度儀(以SJ-210為例)的校準(zhǔn)步驟如下:準(zhǔn)備階段放置標(biāo)準(zhǔn)塊:將校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度塊(表面切削紋路需垂直于檢出器測量方向)放置在校準(zhǔn)支架上,確保其穩(wěn)固且位置準(zhǔn)確。安裝儀器:將三豐粗糙度儀(如SJ-210)的驅(qū)動部(含探頭)輕輕放置在標(biāo)準(zhǔn)塊上,確保探頭與標(biāo)準(zhǔn)塊表面接觸良好且垂直。進入校準(zhǔn)模式開機與導(dǎo)航:按下儀器電源鍵開機,等待自檢完成后,通過按鍵(如Home→MainMenu)進入主菜單界面。選擇校準(zhǔn)測量:在主菜單中找到并選擇“Calib.Meas.”(校準(zhǔn)測量)選項,...
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正置金相顯微鏡是材料科學(xué)領(lǐng)域觀察金屬顯微組織的重要工具,其工作原理基于光學(xué)成像技術(shù),通過精密的光學(xué)系統(tǒng)與機械結(jié)構(gòu)設(shè)計,實現(xiàn)對金屬樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的清晰觀察與分析。??1、基本原理??利用可見光作為照明光源,通過物鏡和目鏡的組合放大作用,將樣品表面反射的光線形成放大的光學(xué)圖像。照明系統(tǒng)將光線投射到樣品表面,經(jīng)過樣品反射后進入物鏡,物鏡將微觀結(jié)構(gòu)放大并形成初級實像,再通過目鏡進一步放大供人眼觀察。這種反射式照明方式特別適合觀察不透明金屬材料的表面組織。顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計確保了成...
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直讀光譜分析儀是材料成分分析的重要工具,其校準(zhǔn)與操作直接影響檢測結(jié)果的可靠性。掌握科學(xué)的校準(zhǔn)方法和規(guī)范的操作技巧,是確保儀器長期穩(wěn)定運行和檢測數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的關(guān)鍵。??一、規(guī)范校準(zhǔn)保障測量基準(zhǔn)??儀器啟用前需進行標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn),建立準(zhǔn)確的測量基準(zhǔn)。定期校準(zhǔn)補償元件老化或環(huán)境變化導(dǎo)致的性能漂移,確保檢測系統(tǒng)始終處于較佳狀態(tài)。使用認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品進行校準(zhǔn),覆蓋待測元素范圍,保證校準(zhǔn)的全面性。校準(zhǔn)過程需在穩(wěn)定環(huán)境下進行,避免溫度、濕度等外界因素干擾。每次校準(zhǔn)后需驗證系統(tǒng)穩(wěn)定性,確認(rèn)測量結(jié)果符合預(yù)期...
查看更多三坐標(biāo)及自動化檢測線 粗糙度輪廓儀、測高儀 直讀光譜儀 金相顯微鏡 光學(xué)軸類測量儀 測長機、投影儀、影像儀 原子力顯微鏡 圓度儀、圓柱度儀 掃描電子顯微鏡 工具顯微鏡 測厚儀系列 硬度計系列 試驗機系列
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